新磊半导体申请分子束外延工艺中的脱膜方法,显著减少外延片表面缺陷:脱膜

金融界2025年5月6日消息,国家知识信息显示,新磊半导体科技(苏州)股份有限公司申请一项名为“一种分子束外延工艺中的脱膜方法”的,公开号CN119913614A,申请日期为2025年3月脱膜

摘要显示,本发明提供一种分子束外延工艺中的脱膜方法,涉及半导体制造技术领域脱膜 。该方法包括:在预设As压条件下,将InP衬底升温至第一脱膜温度;在第一脱膜温度下保持第一时间段;从第一脱膜温度升温至第二脱膜温度;在第二脱膜温度下保持第三时间段,然后脱膜过程结束。本方法通过在比基准温度略低的第一脱膜温度下保持第一时间段,对衬底进行充分加热的同时,减少了磷的脱附,由于充分加热,减少了第二脱膜温度下表面氧化物完全脱附所需的时间,从而能够显著减少外延片表面缺陷,改善外延片表面质量。

天眼查资料显示,新磊半导体科技(苏州)股份有限公司,成立于2011年,位于苏州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业脱膜 。企业注册资本6350.7246万人民币。通过天眼查大数据分析,新磊半导体科技(苏州)股份有限公司参与招投标项目13次,信息72条,此外企业还拥有行政许可27个。

来源:金融界

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